中文發明名稱: 可調整亮度之有機發光二極體裝置

英文發明名稱: OLED Device Capable of Adjusting Luminance

專利證書號: ZL200610105890.8

發證國: 中國

技術領域: OLED

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中文發明名稱: 用於電感性負載之停滯時間偵測電路及其調變電路

英文發明名稱: Dead-time Detecting Circuit For Inductive Load and Modulation Circuit Using the same

專利證書號: US 8258842

發證國: 美國

技術領域: Motor Drive

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中文發明名稱: 分類機及分類測試方法

英文發明名稱: Handler and Method for Testing the same

專利證書號: US 8269517

發證國: 美國

技術領域: IC Testing

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中文發明名稱: 馬達驅動裝置

英文發明名稱: Motor Driving Device

專利證書號: US 7956559

發證國: 美國

技術領域: Motor Drive

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中文發明名稱: 邏輯測試機以及同時量測多個受測裝置之延遲時間的方法

英文發明名稱: Logic Tester and Method for Simultaneously Measuring Delay Periods of Multiple Tested Devices

專利證書號: I374284

發證國: 中華民國

技術領域: IC testing

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中文發明名稱: 聲音訊號處理裝置

英文發明名稱: Audio signal processing apparatus

專利證書號: US 8,170,217

發證國: 美國

技術領域: Audio processing

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中文新型名稱: 電路測試裝置

英文發明名稱: Circuit testing apparatus

專利證書號: M326153

發證國: 中華民國

技術領域: IC Testing

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中文發明名稱: 電流源穩定方法

英文發明名稱: Method for stabilizing current source

專利證書號: I342993

發證國: 中華民國

技術領域: Voltage Control

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中文發明名稱: 可節省數字運算之資料轉換方法及資料轉換電路

英文發明名稱: Data Transformation Method and Data Transformation Circuit Capable of Saving Numeral Operations

專利證書號: I343021

發證國: 中華民國

技術領域: Audio processing

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中文發明名稱: 測試系統

英文發明名稱: Test system

專利證書號: ZL200710187123.0

發證國: 中國

技術領域: IC Testing

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