中文發明名稱: 電路測試裝置

英文發明名稱: Circuit Testing Apparatus

發明人: PTC

發證國: 美國

技術領域: 電路測試裝置

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中文發明名稱: 控制裝置及方法

英文發明名稱: Control Devices and Methods

發明人: PTC

發證國: 美國

技術領域: 控制裝置

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中文發明名稱: 控制裝置及方法

英文發明名稱: Control Devices and Methods

發明人: PTC

發證國: 中華民國

技術領域: 控制裝置

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中文發明名稱: 用於一多媒體介面的影音資料同步方法及其相關裝置

英文發明名稱: Audio Playing Systems

發明人: PTC

發證國: 美國

技術領域: 影像裝置

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中文發明名稱: 大尺寸輸出電路之靜電放電保護裝置

英文發明名稱: ESD of Large Size Output Citcuit

發明人: PTC

發證國: 中華民國

技術領域: 靜電放電保護裝置

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中文發明名稱: 靜電放電防護電路

英文發明名稱: ESD Protecting Circuit

發明人: PTC

發證國: 中華民國

技術領域: 靜電放電防護電路

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中文發明名稱: 偏心光碟片辨別方法

英文發明名稱: Runout Detection Method

發明人: PTC

發證國: 中華民國

技術領域: 偏心光碟片辨別方法

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中文發明名稱: 測試系統

英文發明名稱: Test System

發明人: PTC

發證國: 美國

技術領域: Test System

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中文發明名稱: 影像處理裝置以及影像播放系統

英文發明名稱: Image Processing Apparatus and Image Display System

發明人: PTC

發證國: 中國

技術領域: Image Processing System

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中文發明名稱: 影像處理裝置以及影像播放系統

英文發明名稱: Image Processing Apparatus

發明人: PTC

發證國: 中華民國

技術領域: 影像處理裝置

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