中文發明名稱: 電路測試裝置

英文發明名稱: Circuit testing apparatus

發明人:   滕貞勇, 許麗嬌, 陳輝煌, 黃杰威

發證國: 中華民國

技術領域: IC測試

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中文發明名稱: 螢光燈調光系統,控制裝置及其方法

英文發明名稱: Dimming Control System And Controlling method Thereof

發明人:   劉揚偉

發證國: 美國

技術領域: 螢光燈調光控制

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中文發明名稱: 運算放大器之單邊偏移補償方法

英文發明名稱: Method for single-end offset compensation of an operational amplifier

發明人: PTC   

發證國: 美國

技術領域: 運算放大器

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中文發明名稱: 電路測試裝置

英文發明名稱: Circuit testing apparatus

發明人:   滕貞勇, 蔣維棻, 許益彰, 陳弘偉

發證國: 日本

技術領域: IC測試

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中文發明名稱: 提高影像品質之方法及相關影像處理器

英文發明名稱: Method for improving image quality and image processor of operating the same

發明人: PTC   

發證國: 日本

技術領域: 影像處理

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中文發明名稱: 單相馬達驅動裝置

英文發明名稱: Single Phase Motor Driving Device

發明人: 許齊麟   

發證國: 中華民國

技術領域: 馬達驅動

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中文發明名稱: 防止伺服馬達手動調整時電力回授作用之數位伺服馬達控制器積體電路設計

英文發明名稱: Digital servo motor controller IC design for preventing the power feedback effect during manual adjusting the servo motor

發明人: 林偉程   

發證國:

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