中文發明名稱: 積體電路測試裝置
英文發明名稱: Apparatus for Testing Integrated Circuit
發明人: PTC
發證國: 美國
技術領域: IC測試
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中文發明名稱: 基準線漂移修正裝置及其方法
英文發明名稱: Baseline Wandering Correction Device and Related Method
發明人: 李文正
技術領域: RF IC