中文發明名稱: 可調式電壓比較電路及可調式電壓檢測裝置

英文發明名稱: Adjustable voltage comparing circuit and adjustable voltage examining device

專利證書號: US8471599

發證國: 美國

技術領域: IC Test

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中文發明名稱: 碳奈米管顯示器驅動電路及調整碳奈米顯示器之輸出亮度的方法

英文發明名稱: Method and apparatus for calibrating the brightness of the carbon nanotube display

專利證書號: I399713

發證國: 中華民國

技術領域: FED

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中文發明名稱: 具有增速處理功能的顯示器

英文發明名稱: Image Display Device

專利證書號: I400690

發證國: 中華民國

技術領域: Image Processing

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中文發明名稱: 載波回復方法及其裝置

英文發明名稱: Device for Carrier Recovery and Related Method

專利證書號: ZL200710163275.7

發證國: 中國

技術領域: Image Processing

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中文發明名稱: 邏輯測試機以及同時量測多個受測裝置之延遲時間的方法

英文發明名稱: Logic tester and method for simultaneously measuring delay periods of multiple tested devices

專利證書號: ZL200910134986.0

發證國: 中國

技術領域: IC Test

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中文發明名稱: 顯示器

英文發明名稱: Image Display Device

專利證書號: ZL200910129107.5

發證國: 中國

技術領域: Image Processing

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中文發明名稱: 控制電泳顯示積體電路之控制模組與方法

英文發明名稱: Control module for controlling electro-phoretic display integrated circuit and method thereof

專利證書號: ZL201010168462.6

發證國: 中國

技術領域: Digital IC

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中文發明名稱: 靜電放電保護元件

英文發明名稱: Electrostatic discharge protection device

專利證書號: ZL201010160878.3

發證國: 中國

技術領域: ESD

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