中文發明名稱: 積體電路測試裝置
英文發明名稱: Apparatus for Testing Integrated Circuit
發明人: PTC
發證國: 美國
技術領域: IC測試
[Read the rest of this article...]
中文發明名稱: 基準線漂移修正裝置及其方法
英文發明名稱: Baseline Wandering Correction Device and Related Method
發明人: 李文正
技術領域: RF IC
中文發明名稱: 利用進位保留累加器來提昇影像品質之影像處理裝置及其相關方法
英文發明名稱: an Image Processing Device and Related Method for Improving Image Quality with a CSA Accumulator
發證國: 中華民國
技術領域: 影像處理
中文發明名稱: 網路監控之半導體裝置測試系統
英文發明名稱: Semiconductor Device Test System of Network Monitoring
發明人: 洪贊富
中文發明名稱: 電路測試裝置
英文發明名稱: Circuit Testing Apparatus
發證國: 中國
中文發明名稱: 馬達驅動裝置
英文發明名稱: DRIVING CIRCUIT FOR DRIVING MOTORS
發明人: 許哲維; 許齊麟;
技術領域: 馬達驅動
中文發明名稱: 音樂播放裝置
英文發明名稱: MUSIC PLAYER DEVICE
發明人: 侯坤宏
技術領域: USB
中文發明名稱: 光源控制裝置
英文發明名稱: LIGHT SOURCE CONTROL DEVICE
發明人: 郭阜融
技術領域: 螢光燈調光
中文發明名稱: 類比音效處理電路切換時降低脈衝噪音之設計
英文發明名稱: Circuit for Reducing Pulse Noise Caused at Switching of an Analog Audio Processing Circuit
發明人: 時逸凡; 張立穎;
技術領域: Audio IC
中文發明名稱: 按鍵裝置
英文發明名稱: Button Device
技術領域: I/O port